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产品目录： LED不良分析技术指导 发布时间：2007-11-8 17:01:32     出处：四凯海通达科技有限公司     被浏览324次 一、常温测试IR、VF、亮度、波长。 二、分别在不同环境(常温、高温85℃、低温-40℃)下点亮,确认芯片整体色泽及其是否被点亮。 三、1、将确定好之不良样品从正面洗开进行分析。除去芯片以上胶体（ 注:不可破坏芯片与铝线）表面涂上一层A胶,置于显微镜下观察胶体、芯片、银胶、焊点有无不良。 用小刀除去部份固晶(焊线)金道及 芯片铝垫以上胶体.（ 注:不可破坏焊点及芯片铝垫）探针检查。 A.测量PIN脚与焊线(固晶)点是否导通。 B.测量固晶点与焊线点是否导通。 C.测量固晶点与芯片铝垫是否会亮。 2、从侧面洗开分析     将样品从侧面洗开研磨至芯片与第二焊点前面位置。置于显微镜下观察有无不良情形。继续研磨至芯片1/3在第二焊点前停住。再放置显微镜下观察有无不良情形。 探针检查。 A.测量金线与第一(第二)焊点是否导通。 B.测量金线与固晶点(焊线点)是否导通 C.测量固晶点与银胶是否导通。 D.测量银胶与铝垫是否会导通。 E.测量铝垫与焊点是否导通。 F.测量第二焊点与PCB金道是否导通。 3、再放置显微镜下查看银胶、焊点、铝垫与芯片有无剥离情形。 四、以上发现不良均需拍照片且电性测试要有数据。   室内外单元板、裸板超大规模批发 室内单、双色显示屏大规模超低  显示屏相关配件批发  室外单、双基色大规模批发  室内全彩显示屏超值价位大规模批发  室外全彩显示屏超值价位大规模批发 利率、汇率及条形屏  条码屏及工业电子看板   成功案例：   *****高速公路有限公司 *****系统集成工程公司 *****交警诱导屏 *****地铁导乘系统 *****城市交警支队 *****DTI发车指示器 *****AFC系统顶棚向导 *****友谊广场 *****胜利广场 *****国际会展中心

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